OSI王子計測相位差橢圓偏振測量裝置現貨

OSI王子計測相位差橢圓偏振測量裝置現貨

KOBRA-HB（基礎標準）KOBRA-HBPR（橢圓偏振）KOBRA-HBSPC（分光全光譜）

相位差/橢圓偏振測量裝置 KOBRA-HB系列

■特點

1. 測量方法：
   平行尼科爾旋轉法、
   旋轉偏振器法、
   平行尼科爾光譜法
   
   

2. 測量波長：
   450、500、550、590、630、680nm
   ，400-800nm（光譜范圍）
   
   

3. 垂直入射測量的樣品尺寸
   ：30mm 正方形或更大。
   入射角依賴性：30mm 至 40x50mm，t3 或更小。
   
   

4. 測量區域
   33mm2（5.8mm 正方形：感光細胞區域）
   φ0.8mm（光譜）

Oji Keisoku（OSI 王子計測）KOBRA-HB 系列 相位差 / 橢圓偏振測量裝置 產品介紹

一、核心測量原理（三合一技術）

1. 平行尼科爾旋轉法（標準模式）：高速測量面內位相差 (Re)、方位角 (φ)、雙折射 (Δn)，適合大面積 mapping、快速抽檢

2. 旋轉偏振器法（橢圓偏振模式，HBPR）：一次旋轉獲取橢圓率 ψ、相位差 Δ，計算薄膜厚度、折射率、消光系數，適配半導體 / 光學鍍膜

3. 平行尼科爾光譜法（分光模式，HBSPC）：400~800nm 連續光譜，測波長色散特性 (Re-λ)，分析多層膜、液晶、光學膜的色散行為

二、核心型號與配置（三大主力機型）

三、核心技術參數（高精度指標）

• 位相差量程：2nm 以下～20000nm（全量程無盲區，覆蓋超薄到超厚樣品）

• 位相差分辨率：0.001nm；重復性（3σ）：≤0.03nm（150nm 標準片，590nm）

• 方位角分辨率：0.001°；重復性（3σ）：≤0.005°（取向角高精度）

• 光源：長壽命 LED（壽命 > 20,000 小時），免維護、無需換燈，穩定性遠超傳統鹵素 / 汞燈

• 樣品尺寸：最大 100×100mm，厚度≤3mm；大開口設計，可直接放入偏光板、大片薄膜

• 設備尺寸：W300×D700×H500mm（比 KOBRA-W 體積縮小 40%，節省空間）

• 測量速度：單點測量 < 1 秒；mapping 模式高速掃描

四、核心優勢（對比 KOBRA-W 系列）

1. 超寬量程突破：從超低 Re (2nm 以下) 到超高 Re (20000nm)，一臺覆蓋所有雙折射樣品，無需多臺設備切換

2. 精度與穩定：方位角 / 位相差分辨率提升，長期漂移極小，適合量產線 24h 連續質控

3. 免維護 LED 光源：壽命 > 2 萬小時，無耗材、無預熱、開機即測，運維成本大幅降低

4. 緊湊型大開口：體積更小、樣品開口更大，兼容大片 / 厚片，實驗室 / 產線都適配

5. 三合一多功能：標準 / 橢圓偏振 / 分光三種模式，滿足從基礎檢測到研發的全需求

6. 軟件與自動化：專用分析軟件，自動計算 Re/φ/Δn/ψ/Δ、生成 mapping 圖、色散曲線、數據導出；支持自動進樣器選配

五、適用樣品與典型應用

適用樣品

• 光學薄膜：PET/PI/COP/LCP/PC、相位差膜、偏光板、補償膜、拉伸膜

• 顯示 / 液晶：液晶盒、TFT、OLED 光學層、偏光組件

• 半導體 / 鍍膜：介電薄膜、光學涂層、光刻膠、多層膜

• 高分子 / 玻璃：塑料片、玻璃內應力、纖維、復合材料、透明板材

典型應用

1. 光學膜研發：拉伸工藝優化、取向均勻性評估、雙折射 / 位相差控制、熱收縮分析

2. 顯示面板質控：偏光板 / 液晶盒位相差、旋光角、斜入射特性檢測

3. 半導體 / 鍍膜：薄膜厚度、折射率、消光系數、多層膜結構解析

4. 材料失效分析：內應力、雙折射異常、取向缺陷排查

六、系統構成與選配

• 標準配置：主機（LED 光源 + 偏振光學系統 + 旋轉臺）、專用分析軟件、標準校準片、樣品夾具

• 核心選配：

• 自動進樣器（批量樣品連續測量，20~50 片）

• 傾斜旋轉臺（0~60° 斜入射，測角度依存性）

• 微區光斑模塊（φ0.8mm，局部點測）

• 高溫樣品臺（室溫～150℃，高溫下雙折射測量）

• 數據導出 / PLC 對接 / 產線監控模塊

七、與王子計測生態聯動

八、采購渠道

歡迎廣大行業客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：

玉崎科學儀器（深圳）有限公司

專項負責人：1??1???????  （林）

地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學