OSI王子計測分子取向分析儀玉科現貨

OSI王子計測分子取向分析儀玉科現貨

• 

  MOA-8000系列分子取向分析儀

Oji Keisoku（OSI 王子計測）MOA-8000 系列 分子取向分析儀 產品介紹

一、核心原理（微波空腔共振法）

1. 樣品放入微波共振腔，旋轉樣品，測量共振頻率、Q 值隨角度的變化

2. 計算復介電常數（ε'、ε''）、取向角、取向度（MOR/MOR_C）、雙折射 Δn

3. 直接反映分子鏈 / 纖維在面內的排列均勻性、各向異性、結晶取向狀態，不破壞樣品、無需制樣、透明 / 不透明均可測

二、核心型號與規格（2 大主力機型）

三、核心測量參數（關鍵指標）

• 取向角（φ?）：分子主鏈 / 纖維的優勢排列方向（°）

• MOR（分子取向度）：面內取向均勻性指數，MOR=1 = 無規，MOR 越大取向越強

• MOR_C：結晶相取向度（區分晶區 / 非晶區取向）

• 復介電常數（ε'、ε''）：ε'= 介電常數（極化能力）、ε''= 介電損耗（能量損耗）

• Δn（雙折射）：光學各向異性，與分子取向直接關聯

四、核心優勢

1. 非接觸、無損、無需制樣：不損傷樣品、不污染、可重復測，直接放樣即測，適合量產抽檢與研發留樣

2. 透明 / 不透明 / 有色 / 厚樣全兼容：突破光學法（如 KOBRA）只能測透明薄樣的限制，可測黑色、金屬鍍層、陶瓷、FRP、發泡材料

3. 全自動高精度：自動旋轉、自動采集、自動計算、自動生成取向分布圖 / 介電分布圖，數據重復性＜±1%

4. 一機多能：同時測分子取向 + 介電性能 + 雙折射，一次測量獲得完整結構 - 電性數據，大幅提升效率

5. 穩定可靠：微波腔體恒溫控溫，抗干擾強，長期連續測量穩定性好，適配實驗室與產線質檢環境

五、適用樣品范圍（全品類片狀材料）

• 高分子薄膜：PET、PP、PE、PI、LCP、光學膜、拉伸膜、電容膜

• 復合材料：FRP/GFRP/CFRP、預浸料、碳纖維 / 玻纖片

• 電子材料：陶瓷基板、絕緣片、覆銅板、電磁屏蔽膜

• 其他：紙、無紡布、橡膠片、發泡片、液晶材料、生物膜

六、典型應用場景

1. 高分子薄膜研發 / 制程：拉伸工藝優化、bowing（彎曲）現象分析、熱收縮控制、取向均勻性評估

2. 電子材料質控：LCP/PI 絕緣膜取向與介電性能檢測、高頻高速基板材料開發、電容膜品質管控

3. 復合材料（FRP）：纖維取向分布、層間結構、力學性能預測、成型工藝優化

4. 包裝 / 工業材料：無紡布、發泡片、橡膠片的取向與物性關聯分析、失效原因排查

七、系統構成與選配

• 標準配置：主機（微波共振腔 + 旋轉臺 + 控溫）、專用分析軟件、樣品臺、校準片

• 選配：自動進樣器（批量樣品連續測）、高溫腔（高溫下取向 / 介電測量）、數據導出 / 遠程監控模塊、定制樣品夾具

八、與王子計測生態聯動

九、采購渠道

歡迎廣大行業客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：

玉崎科學儀器（深圳）有限公司

專項負責人：1??1???????  （林）

地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學