玉科現貨OSI王子計測光軸測量裝置

玉科現貨OSI王子計測光軸測量裝置

光軸測量裝置 PAM-PR300

■功能特性
測量方法
旋轉偏振器法
平行尼科爾旋轉法
正交尼科爾旋轉法

測量波長
590nm
可選：450nm、550nm、630nm

樣品尺寸
□30～250mm
厚度≤20mm

測量面積
33mm2（5.8mm見方：光電探測器表面）

測量項目
偏振軸方向、方向角、相位差

Oji Keisoku (OSI 王子計測) PAM-PR300 光軸測量裝置 產品介紹

一、核心定位與測量原理

1. 產品定位

• 核心用途：精準測量光學薄膜、偏光板的偏光軸方位角、分子配向角、相位差，評估膜材取向均勻性、偏光性能、貼合精度，解決薄膜 / 偏光板光軸偏差導致的顯示漏光、色差、視角不良問題

• 核心優勢：角度精度 0.006°(3σ)、單點位 4 秒快速測量、三種測量模式、臺式穩定結構、適配大尺寸樣品

• 適用場景：光學膜材（相位差膜、偏光片、補償膜）研發、來料 IQC、產線抽檢、實驗室精密標定、偏光板貼合品質驗證

2. 測量原理（三種高精度模式）

• 旋轉檢偏器法（Rotating Analyzer）：標準模式，精準測偏光軸、配向角、相位差

• 平行尼科爾旋轉法（Parallel Nicol）：適配高透過率、低相位差樣品

• 正交尼科爾旋轉法（Crossed Nicol）：適配高消光比、大相位差樣品

• 光源：590nm 單色 LED（標準），可選 450/550/630nm，滿足不同膜材光譜特性需求

二、關鍵技術參數（標準）

1. 測量核心參數

• 測量項目：偏光軸方位角、分子配向角、相位差（Retardation）

• 測量波長：標準 590nm；可選 450nm、550nm、630nm

• 角度精度（3σ）：±0.006°（行業頂尖水平，滿足光學膜材嚴苛要求）

• 角度分辨率：0.001°

• 相位差測量范圍：0~1000nm（可擴展）

• 測量光斑：5.8mm 方形（33mm2），穩定覆蓋膜材測量區域

• 測量速度：單點位約 4 秒（偏光軸），全參數測量≤6 秒

• 樣品規格：方形 30~250mm，厚度≤20mm，適配大尺寸卷材裁切樣、成品偏光板

2. 硬件規格（臺式一體化）

• 主機尺寸：W380 × H390 × D610 mm

• 主機重量：27kg（穩定臺式結構，抗振動、適合實驗室 / 產線固定工位）

• 供電：AC100~240V，50/60Hz

• 系統配置：測量主機（含光源 + 光學系統）、專用控制軟件、校準片、樣品臺、數據線、電源線

3. 軟件與數據輸出

• 專用 Windows 軟件：實時顯示角度 / 相位差數值、測量曲線、數據統計（均值、標準差、Cpk）、合格判定

• 數據格式：CSV、Excel、PDF 報告，支持批量導出、歷史數據追溯、SPC 品質管控

• 操作：一鍵測量、自動校準、參數預設、樣品定位輔助，降低操作門檻

三、核心產品優勢

1. 超高角度精度，滿足光學膜材需求

• 角度精度達 **±0.006°(3σ)**，遠超常規設備，可捕捉微小光軸偏差，適配 OLED/LCD 用偏光片、相位差膜的精密測量

• 穩定光學系統，長期漂移小，無需頻繁校準，保證批量測量一致性

2. 三種測量模式，覆蓋全類型光學樣品

• 旋轉檢偏器、平行 / 正交尼科爾三種模式自由切換，適配低相位差、高透過率、高消光比等不同特性的光學膜材，無測量盲區

3. 快速高效，適配產線批量檢測

• 單點位 4 秒完成偏光軸測量，全參數≤6 秒，比傳統設備效率提升 50%+

• 大樣品臺（250mm），一次放置多片小樣品或整片大尺寸膜材，減少裝夾時間

4. 穩定可靠，臺式結構適配嚴苛環境

• 一體化光學設計，抗振動、抗粉塵，適合實驗室與產線混合環境

• LED 固態光源，壽命 > 20,000 小時，免預熱、波長穩定、維護成本低

四、典型應用領域

1. 光學膜材行業：偏光片、相位差膜、補償膜、取向膜的研發與品質管控，測量光軸均勻性、配向精度、相位差

2. 顯示面板行業：偏光板來料檢驗、貼合后光軸偏差檢測、面板光學缺陷分析

3. 高分子材料：拉伸膜、液晶取向膜、光學塑料的分子取向評估

五、與同系列機型對比（PAM-PTB100 vs PAM-PR300）

六、采購渠道

歡迎廣大行業客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：

玉崎科學儀器（深圳）有限公司

專項負責人：1??1???????  （林）

地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學