OSI王子計測長樣品相位對比測量系統

OSI王子計測長樣品相位對比測量系統

KOBRA-WX***系列長樣品相位對比測量系統

• 型號區分（WX***）：按幅寬劃分標準型號：WX50（50mm 幅寬）、WX100（100mm 幅寬）、WX150（150mm 幅寬）；另有WX-IR 紅外版（適配 850~1100nm 紅外光學膜）

■特征
測量方法：
平行尼科爾旋轉法

測量波長：
450、550、590、650nm

按樣品階段劃分的樣品尺寸

測量區域
33mm2（5.8mm 正方形：感光細胞區域）

軟件名稱：
KOBRA-DSP/X

測量項目：
相位差和取向角輪廓

Oji Keisoku (OSI 王子計測) KOBRA-WX*** 長樣品相位差測量系統 產品介紹

一、核心定位與測量原理

1. 產品定位

• 核心用途：長尺 / 大尺寸光學膜（幅寬 50/100/150mm、長度≤1000mm） 的相位差 (Retardation)、取向角 (Optic Axis)、幅寬方向均勻性 (Profile)、波長色散 非接觸、全自動測量

• 對標場景：光學膜研發、制程均勻性監控、來料 / 出貨全尺寸質檢、偏光板 / 補償膜 / COP/PI 膜長樣品評估

• 型號區分（WX***）：按幅寬劃分標準型號：WX50（50mm 幅寬）、WX100（100mm 幅寬）、WX150（150mm 幅寬）；另有WX-IR 紅外版（適配 850~1100nm 紅外光學膜）

2. 核心測量原理

• 平行尼科爾旋轉法 (Parallel Nicol Rotation Method)：王子計測技術，相比傳統旋轉檢偏器法，超低相位差靈敏度高、光路穩定性強、寬量程無需換擋、重復性更好，適配從 nm 級超薄膜到 μm 級厚補償膜

• 光源：多波長固態 LED（標準 450/550/590/650nm，可選擴展至 6 波段），壽命 > 20,000 小時，免維護、無預熱、波長穩定

二、關鍵技術參數（以 WX100 為基準，同系列通用）

1. 測量范圍與精度

• 相位差 (Retardation)：0 ~ 20,000 nm（全量程單次測量，無檔位切換）

• 取向角 (Optic Axis)：0 ~ 90°

• 相位差分辨率：0.001 nm；重復性：≤0.03 nm (150nm 標樣，590nm, 3σ)

• 角度分辨率：0.001°；重復性：≤0.05°

• 測量光斑：33 mm2 (5.8 mm 方形)，保證大區域平均測量、避免局部缺陷干擾

2. 樣品規格（核心長樣品適配）

• 標準幅寬：WX50(50mm)、WX100(100mm)、WX150(150mm)

• 樣品長度：≤1000 mm（支持整段連續掃描）

• 樣品厚度：≤3 mm

• 樣品形態：長條形薄膜、偏光板、裁切長片、卷材裁切樣，支持自動進樣 / 手動定位、幅寬方向多點 / 全幅掃描

3. 系統與軟件

• 專用控制軟件：KOBRA-DSP/X

• 測量項目：相位差、取向角、幅寬方向 Profile、長度方向分布、波長色散、均勻性統計（Cpk、標準差）

• 數據輸出：CSV、Excel、PDF 報告，支持 2D/3D 分布可視化、趨勢分析

• 機身尺寸 (W×D×H)：1550×800×600 mm；重量：約 150 kg；安裝空間：W2500×D900 mm

三、核心產品優勢

1. 長樣品專用自動進樣，全幅寬連續測量

• 專為50~150mm 幅寬、最長 1m的長條形樣品設計，自動沿長度 / 寬度方向掃描，一次完成整段 Profile，無需反復裁切、手動對位，大幅提升長樣品檢測效率（單樣品≤1min）

• 幅寬方向多點 / 全幅掃描，精準評估橫向均勻性（制程拉伸 / 涂布缺陷關鍵指標）

2. 寬量程 + 納米級精度，全品類兼容

• 0~20,000nm 超寬相位差覆蓋：從OLED 超薄 COP 膜 (幾 nm) 到LCD 大尺寸補償膜 (幾 μm) 均可一次測完，無需換模塊

• 平行尼科爾法保證超低相位差高靈敏度，解決傳統設備測超薄膜不準、重復性差的痛點

3. 穩定可靠、產線級耐用

• LED 固態光源，無耗材、免維護、長期波長漂移極小

• 機械結構剛性強，適合實驗室 + 產線抽檢雙場景，長期運行穩定性優異

• 軟件界面簡潔、一鍵測量、自動生成質檢報告，降低操作人員門檻

4. 可擴展功能

• 可選入射角依賴測量模塊（模擬不同視角光學表現）

• 可選紅外版 (WX-IR)：適配 850~1100nm 紅外光學膜、觸控 / 顯示紅外膜測量

• 支持定制更長樣品、更寬幅寬、多波長擴展

四、典型應用領域

• 顯示光學材料：偏光板、相位差膜、OLED 圓偏光片、LCD 補償膜、COP/PI 拉伸膜

• 高分子材料：長幅光學薄膜、熱收縮膜、取向高分子板材

• 研發 / 質檢：長樣品均勻性評估、制程穩定性監控、來料全尺寸檢驗、出貨品質管控、失效分析

五、同系列型號速覽

六、與 KOBRA-WFD0 的核心區別

• WX*：固定長樣品 (≤1m)、幅寬 50~150mm、離線自動進樣、側重整段長片 Profile，適合裁切長樣、偏光板全尺寸檢測

• WFD0：卷對卷連續送料、長度無限、幅寬 50mm、側重卷材連續量產檢測

七、采購渠道

歡迎廣大行業客戶、合作伙伴垂詢與洽談合作：

玉崎科學儀器（深圳）有限公司

專項負責人：1??1???????  （林）

地址：廣東省深圳市龍華新區龍華街道906號電商集團7樓整層玉崎科學