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15815550998
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產(chǎn)品型號：SM-100
更新時間：2026-03-20
廠商性質(zhì)：代理商
訪問量：93
服務(wù)熱線158-1555-0998
產(chǎn)品分類
原裝現(xiàn)貨Otsuka大塚電子智能薄膜厚度計
原裝現(xiàn)貨Otsuka大塚電子智能薄膜厚度計
高精度便攜式薄膜測厚儀。您在測量薄膜厚度時是否遇到過以下問題 ：
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產(chǎn)品信息
規(guī)格
測量目標(biāo)
選項
“便攜式"——重量僅1.1公斤，方便攜帶。
“高精度測量 & 簡易測量"：無需校準(zhǔn)曲線即可測量至 0.1 μm。
“支持多層薄膜"：可測量最多 3 層的多層薄膜。
“非破壞性、非接觸式測量"：測量不會對樣品造成損壞。
“可測量各種樣品"：無論基材（玻璃、塑料等）如何，均可進(jìn)行測量。
① 小型光譜儀
② 小型白色光源
③ 設(shè)備內(nèi)置計算機(jī)：
傳統(tǒng)上，分析是在個人電腦上完成的，但是……
分析
展示
手術(shù)
現(xiàn)在可以通過觸摸面板完成這項操作！
④ 電池供電
⑤ 參考鏡
⑥ 可更換探頭
優(yōu)點
現(xiàn)在你可以把它帶到以前去不了的地方了！
原因
光譜儀小型化、電池爭議等。
場景一：商務(wù)旅行目的地
場景二：生產(chǎn)線
場景3：無法移動的物體
優(yōu)點
無需任何專業(yè)知識或操作培訓(xùn)！
原因①無需組裝；開箱即可使用。
原因 ②只需將探針接觸樣品即可進(jìn)行測量。
原因③它可以通過觸摸面板進(jìn)行直觀操作。
優(yōu)點
測量精度可達(dá)0.1微米。
原因
它采用光譜干涉測量法。
原則測量基材上涂覆的薄膜
從上方入射的光線
會在薄膜表面反射，
穿過薄膜的光線會在襯底或薄膜界面處反射。
測量由光程差引起的相位偏移所造成的
光學(xué)干涉現(xiàn)象。
薄膜厚度可根據(jù)所獲得的反射光譜和折射率確定。
優(yōu)點
① 可測量大尺寸樣品
② 可進(jìn)行無損測量
③ 可測量各種形狀的樣品
原因
因為這是一種需要使用探針進(jìn)行測量的方法。
即使它太大，無法在普通臺式設(shè)備上顯示，也沒關(guān)系。
沒必要再提這件事了。
無需用力捏或按。
優(yōu)點
① 可測量各種形狀的樣品
② 可測量大型樣品
③ 可進(jìn)行無損測量
原因
可以根據(jù)樣品更換探針。
探頭①：標(biāo)準(zhǔn)探頭
用于放置在平面上的樣品。
（例如）電影，簡單形狀
探針②：筆式探針選項
適用于空間狹窄或形狀不規(guī)則的樣品。
（例如）電影，簡單形狀
探針③：非接觸式平臺選項
用于存放您不想直接觸摸的樣品。
（例如）濕膜、半導(dǎo)體晶片
